[스크랩] 공정능력지수(Cpk)

공정능력을 나타내는 방법은

Z값을 활용한 시그마수준과 Cp,Cpk를 활용하는 방법이 있습니다.

이중 Cpk에 대해서 말씀드리겠습니다.

 

Cpk라는 것이 생긴 유래는 Cp의 단점 때문입니다.

Cp는 스펙의 크기와 공정 관리한계의 크기를 비교하므로

스펙의 위치가 바뀌어도 크기만 변하지 않으면 동일한 값을 줍니다.

즉 불량이 많이 발생을 하더라도 모를 수 있다는 것이지요.

 

이를 보완하기 위해 Cpk라는 것이 만들어졌습니다.

 

Cpk = (1-k)Cp ,

로 표시합니다.

여기서 m = (USL+LSL) / 2 입니다.

 

각각의 의미를 설명드리면,

공정능력이 산포의 중심에서 벗어난 정도를 공정능력지수에 반영하기 위해

주어진 양측규격한계(스펙)의 중심을 m이라 정합니다.

이 m을 이용하여 평균과의 거리를 표현한 것이 k 입니다.               

 

치우침도(k) :공정평균이 규격중심에서 벗어나는 정도

 
규격상한만 있는 경우
    Cpk = (USL-μ)/3σ
 
규격하한만 있는 경우
    Cpk = (μ - LSL)/3σ

 

입니다.

 

궁금하셨던 k가 음수가 되면 -> 이부분은 식에서 보시듯이 나올 수 없습니다. 즉 항상 양의 수입니다.

또한 k가 작아진다는 것은 공정의 평균과 규격의 중심이 가까워진다는 것이고,

k가 커진다는 것은 공정의 평균과 규격의 중심이 멀어진다는 뜻입니다.

(그 방향이 USL의 방향일수도 있고 LSL의 방향일 수도 있습니다.)

출처 : 수와이끄

글쓴이 : 벰베 원글보기

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